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“EN 61000-4-4:2012”的版本间差异

来自认证百科
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* 5 kHz 意味着脉冲周期就是0.2 ms为单个脉冲周期,当5 kHz时那么15 ms群脉冲,即15 ms/0.2 ms就是75个脉冲。
* 5 kHz 意味着脉冲周期就是0.2 ms为单个脉冲周期,当5 kHz时那么15 ms群脉冲,即15 ms/0.2 ms就是75个脉冲。
* 100 kHz 意味着脉冲周期就是0.01 ms为单个脉冲周期,当100 kHz时那么0.75 ms群脉冲,即0.75 ms/0.01 ms就是75个脉冲。
* 100 kHz 意味着脉冲周期就是0.01 ms为单个脉冲周期,当100 kHz时那么0.75 ms群脉冲,即0.75 ms/0.01 ms就是75个脉冲。
* 所以说,无论是5 kHz还是100 kHz都是75个EFT脉冲,但是,这75个脉冲里面每个脉冲的时间宽度是不一样的。


====测试5 kHz频率设置====
====测试5 kHz频率设置====

2020年4月23日 (四) 23:12的版本

EN 61000-4-4:2012

电磁兼容性(EMC)-第4-4部分:测试和测量技术-电气快速瞬变/突发抗扰度测试

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-4: Testing and measurement techniques - Electrical fast transient/burst immunity test

IEC 61000-4-4:2012 涉及电气和电子设备对重复电气快速瞬变的免疫力。它提供与电气快速瞬变/突发相关的抗扰度要求和测试程序。它还定义了测试级别的范围,并建立了测试过程。本标准的目的是建立一个通用的、可重复的参考,以评估电气和电子设备在电源、信号、控制和接地端口上受到电气快速瞬态/突发时的抗扰度。本标准中记录的测试方法描述了评估设备或系统对已定义现象的免疫力的一致方法。

测试等级

EFT test levels (IEC/EN 61000-4-4)
Power ports, earth ports (PE)
Level Voltage peak (kV) Repetition frequency (kHz)
1 .5 kV 5 or 100 kHz
2 1 kV 5 or 100 kHz
3 2 kV 5 or 100 kHz
4 4 kV 5 or 100 kHz
x special special
x can be any level specified in product specific standards

电快速脉冲群波形包络

脉冲群特征 Figure 2 – Representation of an electrical fast transient-burst.jpg

高压脉冲群测试仪器设置注意事项

进行EFT电快速脉冲群测试是CE认证中一个最基本的EMC测试项目,普通的电子电器产品测试5 kHz的群脉冲即可,但是,医疗测试要求会更高,不仅仅满足5 kHz还需要满足100 kHz测试要求。这里问题就来了,在测试医疗产品的时候就需要来回切换5 kHz与100 kHz进行切换。但是,很多仪器设备的参数设置,可就不是那么“人性化”了。脉冲时间、脉冲个数,可以DIY分别进行设置,这个设计可能是厂家为了更加方便实验室进行各种自定义测试,满足不同的测试需求扩大设备的通用性,初衷是好的。但是,对于实验室的测试工程师,特别是对于没有读标准,或者读标准不深的测试工程师,可能就是设置错误,导致测试误差。特别是对于医疗产品来说,我遇到几次了,都是因为这个问题。因此,作如下澄清:

测试脉冲特征

  • 300 ms 一个脉冲群周期
  • 5 kHz 意味着脉冲周期就是0.2 ms为单个脉冲周期,当5 kHz时那么15 ms群脉冲,即15 ms/0.2 ms就是75个脉冲。
  • 100 kHz 意味着脉冲周期就是0.01 ms为单个脉冲周期,当100 kHz时那么0.75 ms群脉冲,即0.75 ms/0.01 ms就是75个脉冲。
  • 所以说,无论是5 kHz还是100 kHz都是75个EFT脉冲,但是,这75个脉冲里面每个脉冲的时间宽度是不一样的。

测试5 kHz频率设置

EFT 15ms 5kHz.jpg

EFT-5kHz-75pulse.jpg

测试100 kHz频率设置

EFT 0.01ms 100kHz.jpg

EFT-100kHz-75pulse.jpg

测试EFT设备摆放要求

  • For floor standing equipment 1.0 m ± 0.1 m
  • For table top equipment 0.5 ± 0.1 m

Power-ports-for-laboratory-type-tests.jpg

  • 如上图所示,测试样品必须放置在参考地平面之上。

生效日期

  • date of Ratification (DOR) (1) 2012-06-04
  • date of Availability (DAV) (2) 2012-11-09
  • date of Announcement (DOA) (3) 2012-09-04
  • date of Publication (DOP) (4) 2013-05-09
  • date of Withdrawal (DOW) (5) 2015-06-04

EN-61000-4-4-2012.jpg

Note: (1) Date of ratification (dor) date when the Technical Board notes the approval of an EN (and HD for CENELEC), from which time the standard may be said to be approved

(2) Date of availability (dav) date when the definitive text in the official language versions of an approved CEN/CENELEC publication is distributed by the Central Secretariat

(3) Date of announcement (doa) latest date by which the existence of an EN (and HD for CENELEC), a TS or a CWA has to be announced at national level

(4) Date of publication (dop) latest date by which an EN has to be implemented at national level by publication of an identical national standard or by endorsement

(5) Date of withdrawal (dow) latest date by which national standards conflicting with an EN (and HD for CENELEC) have to be withdrawn

(6) This list of normative references is purely indicative. The only official list of normative references is the list of the published standard.

In the case of undated standard, a link to the last dated version is provided.

In the case of series, a link to each standard identified in the series is provided.

We also invite you to check (via the website) whether corrigenda and/or amendments shall be read in conjunction with the main standard.

(7) Estimated dates to be confirmed at the publication of the standards.